搜索
Apreo S Hivac
產品描述
參數
技術參數
應用領域
Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有最廣泛地適用
性,可以在最短時間內為材料研究人員提供卓越的成
像質量。
當 Apreo 的電子束打開,形貌和成分襯度可以同時被鏡筒內探測系統
呈現:無需繁瑣操作,即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大
倍率下,Apreo 的長工作距離(如 10mm 分析工作距離)也能表現出
杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上,Apreo的
用戶界面也可以高效地引導操作者獲得表征該納米結構的最優參數條
件。 Apreo 能在短時間內解決錯綜復雜的研究問題,適用于需要多功
能以及多用戶操作的應用場合。
Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,其創新的末級
透鏡設計,絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級透鏡
(Apreo C 和 Apreo S)能夠實現鏡筒內多種信號的同時探測和高分辨
率,而 Apreo S 則結合靜電、浸沒式磁場的復合透鏡以進一步提高低電壓下
的分辨率,在 1 kV 加速電壓下的分辨率為 1.0 nm,不需要電子束減速。通過
將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現特有的信號過濾功能。
Apreo 擁有透鏡內背散射探測器 T1,其位置緊靠樣品,確保在較短的時間
內獲得最大量的采集信號。與其他背散射探測器不同,這種快速的探測器在
導航時、傾斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏
感樣品時,探測器的優越性能尤為突出,即使電流低至幾 pA,它也能提供
清晰的背散射圖像。Apreo S 復合末級透鏡通過能量過濾實現高質量的材料
襯度以及絕緣樣品的無電荷成像,進一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價
值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補充其探測能力,例如定向背散射
探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器 (GAD)。所有這些探
測器都擁有獨一無二的軟件控制分割功能,以便根據需求選擇最有價值的樣
品信息
未找到相應參數組,請于后臺屬性模板中添加
上一個
Apreo C
下一個
Talos? L120C TEM
關聯產品
關于瑞高
產品中心
聯系我們
底部-聯系我們
發布時間:2021-02-23 11:37:04
掃一掃,關注瑞高
底部-備案信息
發布時間:2021-02-23 11:37:46
Copyright © 東莞市瑞高電子科技有限公司 網站備案號:粵ICP備12076209號
TOP
TOP


